Międzynarodowa Konferencja Metrologiczna „New trends in metrology” 

ntim_blunt.png

Liam Blunt - posiada dyplom z wyróżnieniem w dziedzinie technologii materiałowej oraz doktorat z „Metalurgii powierzchni bezcentrowych” pod kierunkiem dr Wilfa Tomlinsona z Coventry University. Profesor Blunt przez rok pracował jako metalurg w analizie awarii w AMTAC Laboratories w Manchesterze.

Jego doświadczenie akademickie obejmuje okres podoktorancki na Uniwersytecie Warwick, obejmujący mikroskopię nadprzewodników grubo- i cienkowarstwowych. Następnie prof. Blunt w 1990 roku przeniósł się na Birmingham University, aby pracować nad rozwojem testera materiałów o wielu właściwościach. Podczas pobytu w Birmingham zainteresował się tribologią i metrologią powierzchni. Ostatecznie prof. Blunt rozwijał się naukowo w dziedzinie metrologii powierzchni.

W 1997 roku przeniósł się do Huddersfield i zaczął rozwijać Centrum Technologii Precyzyjnych (The Centre for Precision Technologies).  Prof. Blunt nawiązał współpracę przemysłową, w szczególności z Taylor Hobson Ltd, wiodącą na świecie firmą pomiarową. Był kierownikiem Katedry Metrologii Powierzchni Taylora Hobsona w latach 2002-2012. Jest Koordynatorem Zespołu Oceny ds. Inżynierii i Dyrektorem Centrum Inżynierii Precyzyjnej.

Ekspertyza badawcza i zainteresowania

  • Mikro- i nanometrologia powierzchni,
  • Implanty medyczne w tribologii i metrologii,
  • Rozwój precyzyjnych procesów ściernych,
  • Metrologia sądowa dla balistyki,
  • Technologia Roll 2 Roll i metrologia.

fundusze.png

Projekt współfinansowany ze środków Unii Europejskiej w ramach Europejskiego Funduszu Społecznego, Program Operacyjny Wiedza Edukacja Rozwój 2014-2020
"
PL2022 - Zintegrowany Program Rozwoju Politechniki LubelskiejPOWR.03.05.00-00-Z036/17