PROGRAM / New Trends in Metrology 2026

>>> PROGRAM DO POBRANIA <<<

>>> SPIS POSTERÓW DO POBRANIA <<<

1. DZIEŃ: 26 października 2026
11:00-11:30	Ceremonia otwarcia
Sesja Plenarna I
11:30-13:30	dr Mikko Merimaa (EURAMET) European Metrology Agenda for the next decade
	prof. dr hab. inż. Piotr Samczyński (Politechnika Warszawska) New Frontiers in Modern Passive Radars
	prof. dr hab. inż. Michał Wieczorowski (Politechnika Poznańska) Metrologiczne aspekty gospodarki wodorowej
	prof. dr hab. inż. Małgorzata Kujawińska (Politechnika Warszawska) Metrology aspects in 2D/3D quantitative phase imaging
13:30-14:30	Lunch
Sesja I część I: Metrologia kwantowa i optyczna
14:30-16:00	prof. dr hab. Tomasz Dietl (Międzynarodowe Centrum Badawcze MagTop) Dilute Magnetic Semionductors for Quantum Resistance Standards
	mgr inż. Bogdan Bednarski (Uniwersytet Mikołaja Kopernika w Toruniu) Cavity-enhanced molecular hydrogen spectroscopy for precision metrology in a deep cryogenic regime
	dr inż. Piotr Morzyński (Uniwersytet Mikołaja Kopernika w Toruniu) Polskie zegary optyczne w międzynarodowych pracach nad redefinicją sekundy: projekt Arcsecond i infrastruktura KL FAMO
	dr inż. Dariusz Litwin (Sieć Badawcza Łukasiewicz – Instytut Tele i Radiotechniczny) A Historical Perspective on Variable-Wavelength Interferometry
	dr inż. Andrzej Kaźmierczak (Szkoła Główna Gospodarstwa Wiejskiego) Liquid material refractive index sensor and standard based on directly nano-imprinted silica-titania vertical grating coupler
Sesja I część II: Jednostki metrologiczne jako wsparcie rozwoju metrologii krajowej
	prof. dr hab. Nataliya Hots, prof. dr hab. Larysa Kosheva (Politechnika Lwowska, Narodowy Uniwersytet „Kijowski Instytut Lotniczy") System metrologiczny Ukrainy: polityka państwa, Akademia Metrologii, działalność naukowa i edukacyjna
	dr Andrzej Kurkiewicz (Główny Urząd Miar) Research and Development activities of the Central Office of Measures
16:00-16:30	Przerwa kawowa i networking z wystawcami
Sesja II: Niepewność Pomiarów, Analiza Danych i Przetwarzanie Sygnałów
16:30-18:00	dr hab. inż. Józef Wiora, prof. uczelni (Politechnika Śląska) Challenges in Assessing Measurement Uncertainty of Quantities Described by Fractional-Order Differential Equations
	dr inż. Danuta Owczarek (Politechnika Krakowska) Analysis of the influence of object fixturing conditions on the uncertainty of coordinate measurements estimated using the Multi-position method
	prof. dr hab. inż. Tadeusz Skubis (Małopolska Uczelnia Państwowa, Oświęcim) Digital method curve linearization of measuring instruments
	dr inż. Zygmunt L. Warsza (Uniwersytet Radomski) Cumulative cards using stochastic polynomials and the Shewhart method for control processes with asymmetric distributions
	dr inż. Andrzej Bąkowski (Politechnika Świętokrzyska) Analiza niepewności pomiaru poziomu hałasu w ujęciu klasycznych oraz percepcyjnych reguł oceny
	prof. dr hab. inż. Paweł Kossakowski (Politechnika Świętokrzyska) Integracja informacji pomiarowej z modelem BIM w procesach metrologii inżynierskiej
19:00	Kolacja powitalna (Welcome Party)

2. DZIEŃ: 27 października 2026
Sesja Plenarna II
9:00-10:00	prof. Alessandro Ruggiero (Uniwersytet w Salerno) Computational biotribological and biomechanical modelling in total hip replacements (THR) accounting for the topography of the contact surfaces
	Dyrektor Generalny Piotr Ziółkowski (Główny Urząd Miar) System Pustułka dla Kielc
	dr inż. Jacek Świderski (Politechnika Świętokrzyska, Główny Urząd Miar) Możliwości i perspektywy rozwoju Laboratorium Zaawansowanych Technik Pomiarowych Interlab
10:00-10:30	Przerwa kawowa i networking z wystawcami
10:30-14:30	Wizyta w ŚKL GUM
14:30-15:30	Lunch
Sesja III część I: Nowoczesne technologie pomiarowe, automatyzacja i systemy weryfikacji w przemyśle
15:30-17:30	dr Sławomir Janas (Centrum Metrologii Badań i Certyfikacji Radwag) Systemy wagowe w metrologii masy – realne możliwości pomiarowe
	dr hab. inż. Witold Habrat, prof. uczelni (Politechnika Rzeszowska) Pomiary w procesach skrawania uwzględniające podejście multisensoryczne i uczenie maszynowe
	dr hab. inż. Jerzy Józwik, prof. uczelni (Politechnika Lubelska) Multisensoryczny System Monitoringu Maszyn CNC i Procesów w Czasie Rzeczywistym
Sesja III część II: Metrologia elektryczna, magnetyczna i nanotechnologie
15:30-17:30	dr hab. inż. Sławomir Gryś (Politechnika Częstochowska) Wyznaczanie dyfuzyjności cieplnej ciał stałych metodą długiego impulsu – dyskusja wybranych aspektów
	dr inż. Adam Pilśniak (Politechnika Śląska) Analiza i weryfikacja pomiarowa rozkładu indukcji magnetycznej w układzie cewek DRIVE do pomiaru magnetostrykcji metodą SAMR
	dr hab. inż. Krzysztof Musioł, prof. uczelni (Politechnika Śląska) Komparacje impedancji z wykorzystaniem cyfrowych mostków czteroportowych
	prof. dr hab. Anna Rabajczyk (Centrum Naukowo-Badawcze Ochrony Przeciwpożarowej, Państwowy Instytut Badawczy) Issues regarding the qualitative and quantitative analysis of metal nanoparticles in environmental samples
	mgr inż. Firomsa Bidira Abdi (Akademia Górniczo-Hutnicza) State of the Art and Recent Advancements in the GIS-Based Approaches for Landfill Site Selection
17:30-19:00	Posiedzenie KBM PAN
19:00	Uroczysta kolacja (Gala Dinner)

3. DZIEŃ: 28 października 2026
Sesja IV część I: Nowoczesne Technologie Pomiarowe
9:00-11:00	dr hab. inż. Mariusz Rząsa (Politechnika Opolska) Zastosowanie metody LBP do wyznaczania pozycji obiektów w systemie BLE
	mgr inż. Arkadiusz Markowski (Labteq) SuPAR: zobacz różnicę - jak rozszerzona rzeczywistość i AI przyspieszają inspekcję wizualną
	mgr inż. Anna Gębarska (Smarttech sp. z o.o.) Metrologia dla obronności – koncepcja wirtualnych magazynów części krytycznych
	mgr Grzegorz Pędzisz (Carl Zeiss Sp. z o.o.) Metrologia w przemyśle
Sesja IV część II: Metrologia w Inżynierii Produkcji i przemyśle
	dr hab. inż. Tomasz Bartkowiak, prof. uczelni (Politechnika Poznańska) Framework for multiscale geometric characterization of freeform surfaces
	mgr inż. Artur Rębiś (Siemens) In-Machine Measurements with SINUMERIK
	mgr Krzysztof Wołowiec (Laboratoryjnie.pl) System zarządzania jako wsparcie kompetencji technicznych laboratorium
	mgr inż. Michał Leleń (Politechnika Lubelska) Analiza rozwarstwień podczas cięcia struktur wielowarstwowych za pomocą wysokociśnieniowej strugi wodno-ściernej
Prezentacja Klastra Metrologicznego
11:00-11:15	mgr inż. Urszula Wasińska (Targi Kielce S.A.) Działalność Klastra Metrologicznego
11:15-11:45	Przerwa kawowa
11:45-13:30	Sesja plakatowa (prezentowane na ekranach multimedialnych)
13:30-14:00	Ceremonia zamknięcia
14:00-15:00	Lunch

SESJA PLAKATOWA
1.	A novel system for complex dielectric-permittivity-spectrum measurements in 1 MHz – 3 GHz frequency range dr hab. Marcin Kafarski Instytut Agrofizyki im. Bohdana Dobrzańskiego Polskiej Akademii Nauk
2.	Assessment of rapeseed (Brassica napus L.) moisture content based on complex dielectric permittivity spectrum dr hab. inż. Jacek Majcher, prof. uczelni Politechnika Lubelska
3.	Autocollimator-Based Measurement of an Optical Polygon dr inż. Marta Grzyb i dr inż. Paweł Jagodziński Główny Urząd Miar / Uniwersytet Jana Kochanowskiego w Kielcach
4.	Calorimetric thermal voltage converter with metallized organic waveguide prof. dr hab. inż. Marian Kampik Politechnika Śląska
5.	Comparative Analysis of the Calibrated Artifact Method and the Multi-Position Method for Length Calibration dr inż. Konrad Kobiela Politechnika Krakowska im. Tadeusza Kościuszki
6.	Comparison of 131I, 99mTc, and 225Ac activity measurements in Polish nuclear medicine centers dr hab. Ryszard Broda, mgr Zbigniew Tymiński Narodowe Centrum Badań Jądrowych Ośrodek Radioizotopów POLATOM
7.	CRDS nonlinearity correction for sub-permille accuracy metrology standards mgr Marcin Gibas Główny Urząd Miar
8.	Defektoskopia ultradźwiękowa w analizie przepływów dwufazowych ciecz-gaz dr inż. Elżbieta Wróblewska, prof. dr hab. inż. Artur Andruszkiewicz, dr inż. Wiesław Wędrychowicz, dr inż. Piotr Piechota, dr inż. Piotr Synowiec Politechnika Wrocławska
9.	Detecting Glass in Glass in X-ray Images: Active Learning in a Food Quality Inspection System mgr inż. Jerzy Rapcewicz, dr inż. Marcin Malesa, mgr inż. Michał Kocon, dr inż. Tomasz Kowaluk Politechnika Warszawska
10.	Determination of the Measurement Uncertainty of Reference Workpieces for the Active Volume of Ionization Chambers dr inż. Tomasz Kowaluk Politechnika Warszawska
11.	Developing a Metrological Digital Twin for Uncertainty Evaluation in Coordinate Measurement Calibration at GUM mgr Adam Wójtowicz Główny Urząd Miar / Szkoła Doktorska Politechniki Krakowskiej
12.	Dopasowanie dowolnej krzywej nieliniowej metodą LSM do punktów pomiarowych z przykładami dr Jacek Puchalski Główny Urząd Miar
13.	From elemental standards to matrix reference materials: Evaluation of choline chloride-oxalic acid mixtures for green extraction of inorganic analytes. mgr inż. Agnieszka Kowaluk Główny Urząd Miar / Uniwersytet Mikołaja Kopernika w Toruniu
14.	Impact of Intermediate Precision on the Measurement Uncertainty of Direct Verification of DC Voltage Sources mgr inż. Krystian Mieczkowski Politechnika Białostocka
15.	Innovative application of dielectric methods for assessing the quality of agrophysical objects dr inż. Małgorzata Budzeń Instytut Agrofizyki im. Bohdana Dobrzańskiego Polskiej Akademii Nauk
16.	Inteligentny system wieloczujnikowy do monitorowania zjawisk termomechanicznych podczas frezowania dr inż. Kamil Anasiewicz Politechnika Lubelska
17.	Interlab - laboratorium wzorcujące AP 240 dr inż. Tomasz Dobrowolski Politechnika Świętokrzyska / Główny Urząd Miar
18.	Metodologia wyznaczania wskaźników tętnienia światła dr inż. Marek Kurkowski, prof. dr hab. inż. Tomasz Popławski Politechnika Częstochowska
19.	Metrologiczne aspekty oceny elementów kształtowanych plastycznie z blach z zastosowaniem narzędzi elastomerowych dr. hab. inż. Krzysztof Żaba, prof. uczelni Akademia Górniczo-Hutnicza im. Stanisława Staszica w Krakowie
20.	Mobilne systemy wytwarzania przyrostowego i pomiarów geometrycznych prof. dr hab. inż. Grzegorz Budzik Politechnika Rzeszowska
21.	Molecular beam epitaxy growth of (Bi,Sb)2Te3:Cr – toward resistance standard based on quantum anomalous Hall effect prof. dr hab. Tomasz Wojtowicz Międzynarodowe Centrum Badawcze MagTop / Instytut Fizyki PAN
22.	Nanoscale Surface Characterization Using the SIOS NMM-1 Nanopositioning and Measuring Machine dr Sławomir Wąsik, dr Aneta Węgierek-Ciuk, dr Katarzyna Gałczyńska Uniwersytet Jana Kochanowskiego w Kielcach / Główny Urząd Miar
23.	Nowa strategia frezowania cienkościennych elementów kieszeniowych z zastosowaniem wkładki usztywniającej - analiza wyników pomiaru odkształceń poobróbkowych dr inż. Magdalena Zawada-Michałowska Politechnika Lubelska
24.	Ocena dokładności wymiarowo-kształtowej konstrukcji cienkościennej o otwartej geometrii dr inż. Paweł Pieśko Politechnika Lubelska
25.	Pomiar i ocena zmian przepływu powietrza w kanałach wentylacji grawitacyjnej jako sposobu na detekcję naruszenia stref ochrony wewnętrznej w budynku przez intruza dr inż. Marcin Buczaj Politechnika Lubelska
26.	Prezentacja firmy ITA mgr inż. Bogusław Siuba ITA
27.	Przeciwzużyciowe powłoki uzyskiwane w procesach chemicznego i fizycznego osadzania z fazy gazowej dr hab. inż. Monika Madej Politechnika Świętokrzyska
28.	Recent Developments in Photogrammetric System Calibration at the Central Office of Measures mgr Mariusz Wiśniewski Zakład Czasu i Długości Główny Urząd Miar
29.	Stanowisko do wzorcowania tachimetrów w Świętokrzyskim Kampusie Laboratoryjnym Głównego Urzędu Miar dr inż. Urszula Kmiecik-Sołtysiak, dr inż. Karol Krawczyk Politechnika Świętokrzyska / Główny Urząd Miar
30.	Standaryzacja Druku 3D w aspekcie metrologicznym dr hab. inż. Tomasz Kozior Politechnika Świętokrzyska / Główny Urząd Miar
31.	Sterowanie i kontrola procesu dozowania granulatu do komory mieszadła w wytłaczarkach ślimakowych. dr inż. Karolina Głogowska Politechnika Lubelska
32.	Studies on the influence of the kinematic center position of a CNC machine tool’s rotary axis on machining accuracy mgr inż. Daria Sałamacha Politechnika Lubelska
33.	Towards an AI-Driven European Mining Industry dr Jacek Galas, dr inż. Dariusz Litwin Sieć Badawcza Łukasiewicz - Instytut Tele- i Radiotechniczny
34.	Udział Głównego Urzędu Miar w projekcie EPM 24DIT02 DINAMO: Ustanowienie ścieżki cyfryzacji dla nanometrologii wymiarowej mgr inż. Piotr Sosinowski Główny Urząd Miar
35.	VR-assisted optical metrology training dr inż. Wiktor Harmatys¹, dr hab. inż. Adam Gąska, prof. PK¹, dr inż. Piotr Gąska², dr inż. Maciej Gruza² ¹Politechnika Krakowska ²AGH Akademia Górniczo-Hutnicza w Krakowie
36.	Wieloskalowa ocena topografii powierzchni dr hab. inż. Damian Gogolewski, prof. PŚk Politechnika Świętokrzyska
37.	Wpływ nanocieczy tlenku krzemu na wymianę ciepła podczas wrzenia w objętości mgr Karolina Bębacz Główny Urząd Miar
38.	Wpływ parametrów środowiskowych na właściwości termoizolacyjne wybranych materiałów budowlanych dr hab inż. Robert Kaniowski, prof. PŚk Politechnika Świętokrzyska / Główny Urząd Miar
39.	Wytwarzanie przyrostowe obiektów cienkościennych dr inż. Łukasz Przeszłowski Politechnika Rzeszowska im. Ignacego Łukasiewicza